Halfgeleiders
Microscopie – onmisbaar in de geavanceerde halfgeleiderindustrie
Welkom in de wereld van halfgeleiders, waar elk detail telt! Als u werkzaam bent in deze industrie, weet u hoe belangrijk het is om elk detail nauwkeurig te inspecteren. Daarom heeft u hoogwaardige microscopen nodig die u een haarscherp en gedetailleerd beeld van uw printplaat of wafer geven.
De halfgeleiderindustrie behoort tot de meest geavanceerde technologieën op de markt en vereist geavanceerde inspectietools om de kwaliteit van de producten te waarborgen. Microscopie is in de loop der jaren uitgegroeid tot een essentieel hulpmiddel in deze sector om inzicht te krijgen in halfgeleiders op atomair en microscopisch niveau.
Motic
Camera 1080N, color, CMOS, 1/2.8", 2.9 µm, 6 MP, 30 fps, HDMI, USB 2.0
$ 1.540,00
Verkoopprijs:
$ 1.222,32
SCHOTT
EasyLED ringlichtsysteem, (RL) Ø i=66mm, incl. voeding
$ 770,00
Motic
Camera adapter Foto-uitvoer (K500/700)
$ 257,00
Motic
Camera adapter Foto-uitvoer (K400)
$ 257,00
Evident Olympus
Objectief Olympus voorzetlens 110AL-0.62X
$ 550,00
ToupTek
Camera ToupCam E10ISPM 21000KPA, kleur, CMOS, 4/3", 3,3 µm, 25-240 fps, 21 MP, USB 3.2
$ 1.699,00
ToupTek
Camera ToupCam E10ISPM 8300KPA, kleur, CMOS, 1/1,2", 2,9 µm, 60 fps, 8,3 MP, USB 3.2
$ 999,00
ToupTek
Camera ToupCam E10ISPM 20000KPA, kleur, CMOS, 1/1,1", 3,3 µm, 24-120 fps, 20 MP, USB 3.2
$ 1.399,00
Evident Olympus
Objectief 110AL-2X-2
$ 305,00
Evident Olympus
DFPLAPO1X/0,1 objectief
$ 1.680,00
Evident Olympus
DFPL0.5X/0,05 objectief
$ 1.210,00
Evident Olympus
Objectief 110ALK-0.5X
$ 298,00
SCHOTT
Flexibele lichtgeleider, 1-armig, PURAVIS Ø 5mm/1600mm
$ 315,00
Euromex
objectief BS.8105, Plan PL 5x/0.12, w.d. 26.1 mm, oneindig (bScope)
$ 134,00
Evident Olympus
Objectief Olympus voorzetlens 110ALK-0.4X
$ 425,00
Gedetailleerd onderzoek
Voor gedetailleerd onderzoek van halfgeleiders in de industrie is een metallurgische microscoop nodig waarbij het werkstuk van bovenaf wordt verlicht.
Microscopen met speciale verlichting zijn hierbij bijzonder effectief, omdat reflectie ook de waarneming van fijne oppervlaktedetails van halfgeleiders mogelijk maakt.
Het is ook mogelijk om 3D-beelden te maken met stereomicroscopen die zowel oplicht als doorlicht gebruiken – wat vooral nuttig is bij het analyseren van de topografie van halfgeleiders. Ook kleine stereomicroscopen met een lage vergroting maar een grote werkafstand zijn hier relevant, omdat ze het plaatsen en solderen van componenten mogelijk maken.